Siemens Zeitschrift Nov./Dez. 1940 [antikvár]

Die Technik des Siemens-Übermikroskops") Von Dr.-Ing. B. v. Borries und Dr.-Ing. E. Ruska, Siemens a HaLke AG, Laboratorium für Elektronenoptik. Die bisher veröffentlichten Beschreibungen des Siemens-Übermikroskops') wendeten sich in erster Linie an die Forscher, deren Arbeiten durch die Auflösungsgrenze des Lichtmikroskops behindert waren. Für diese Kreise war es besonders wertvoll, daß durch Verwendung von Elektronenstrahlen kurzer Wellenlänge die Mikroskopie in das ihr bisher verschlossene Gebiet fortgesetzt werden konnte. Der Schwerpunkt der früheren Darstellung lag demgemäß darauf, zu zeigen, was das Gerät optisch leistet und in welchem Maße die dem Forscher vom Lichtmikroskop her bekannte Handhabung auf das neue Gerät übertragen worden war (Einlegen von Objekt und Platte, Justierung des Strahls, Scharfstellung und Beobachtung des Bildes, Durchsuchen des Objektes und Belichtung der Aufnahme). Nähere Einzelheiten, die in erster Linie vom gerätetechnischen Gesichtspunkt aus gesehen wissenswert sind, wurden bisher nicht veröffentlicht. Dagegen wurde einerseits die Physik der Bildentstehung untersucht, andererseits wurde durch spezielle Arbeiten in den verschiedensten Wissensgebieten der Beweis erbracht, daß durch die Anwendung des neuen Forschungsverfahrens der Übermikroskopie Ergebnisse erzielbar sind, die auf andere Weise nicht gewonnen werden können"); dadurch wurde der Übermikroskopie ein fester Platz unter den wissenschaftlichen Forschungsverfahren gesichert'). Nachdem nun seit einem Jahre durch den Beginn der Lieferung das Übermikroskop als erstes *) Eingegangen 3.11. 1940. B. V. Borries und E. Ruska, Wiss. Veröä. Siemens Bd. 17 (1938), S.99. Naturwiss. Bd. 27 (1939), S. 577. Z. wiss. Mikrosk. Bd. 56 (1939), S. 317. ') Vgl. hierzu den zusammenfassenden Bericht der Verfasser in Ergebn. exakt. Naturw. Bd. 19 (1940), S.237. Über die vielfältigen Untersuchungsmöghchkeiten vgl. den nachfolgenden Aufsatz von H. Ruska. hochauflösendes Elektronenmikroskop seinen Weg heraus aus dem Entwicklungslaboratorium in die Praxis genommen hat und schon eine Anzahl solcher Geräte außerhalb, einige weitere Geräte in dem von Siemens & Halske eingerichteten Gastlaboratorium für Übermikroskopie in Betrieb sind, nachdem ferner von anderen Seiten spätergebaute Laboratoriumsgeräte sehr eingehend beschrieben worden sind') • ¦ ''), soll jetzt auch vom Siemens-Übermikroskop eine nähere Beschreibung seines elektronenoptischen, vakuumtechnischen und elektrischen Aufbaues sowie seiner Wirkungsweise gegeben werden. Dabei möchten wir einerseits dem Ingenieur einen Einblick in dieses Arbeitsgebiet geben und andererseits dem Benutzer des Übermikroskops sein Gerät nahebringen. Wir werden zeigen können, daß sich das Siemens-Übermikroskop in seiner jetzigen Form ohne weiteres in den Betrieb eines Entwicklungsund Forschungslaboratoriums einfügt. 1. Physikalische Grundlagen. Das Auflösungsvermögen des Lichtmikroskops ist bekanntlich durch die Wellenlänge des Lichts begrenzt und kann bei der Verwendung sichtbaren Lichtes für gitterförmige Strukturen mit etwa 0,2 n = 200 m M- angesetzt werden. Das bedeutet, daß zwei Punkte wenigstens diese Entfernung voneinander haben müssen, um noch getrennt abgebildet zu werden. Durch die Entwicklung des mit Quarzlinsen ausgestatteten Ultraviolett-Mikroskops, bei dem das Bild mit ultraviolettem Licht von etwa der halben Wellenlänge des sichtbaren Lichts erzeugt wird, konnte diese Grenze noch auf etwa 0,1 !i erweitert werden. •) H.Mahl, Jb. d. AEG-Forschg. Bd. 7 (1940), S. 43. ') E. Brüche und E. G ö 1 z , Jb. d. AEG-Forschg. Bd.7 (1940), S.SO. ") M. V. A r d e n n e , Z. Phys. Bd. 115 (1940), S. 339.